A mérőrendszer egészét ellenőrizze
A modern potenciosztátokkal az elektrokémiai méréseket a cellához és a vizsgált jelhez illesztett körülmények között kell végezni. A műszer névleges pontossága önmagában nem a teljes kísérlet bizonytalansága.
Mivel az elektrokémiai technikák érzékenyek a kísérleti hibákra, a mérés minőségét a beállítás, a csatlakozások és a cella geometriája együtt határozza meg. Ez a cikk a korábbi laboratóriumi útmutató javított változata: a használható szempontok megmaradtak, az általánosító állításokat pontosítottuk. Eredeti gyártói háttér.
Árnyékolás és zavarforrások
A mérés minőségét befolyásolhatják a hálózati zavarok és a közelben működő műszerek. Kis áramoknál vagy nagy impedanciánál a Faraday-ketrec hasznos lehet; a korábbi cikk 10 µA-os példája nem minden mérőrendszerre érvényes küszöb. A ketrecet a műszer gyártói bekötési előírása szerint csatlakoztassa a megfelelő földelési vagy árnyékolási ponthoz. Egy újabb, tetszőleges földvezeték földhurkot is létrehozhat.
Saját ellenőrzési javaslat: azonos beállítások mellett hasonlítsa össze a cella és egy ismert próbaterhelés jelét, majd egyenként vizsgálja meg a közeli zavarforrások hatását. A különbség a hibakeresést segíti; nem helyettesít kalibrációt.
Átlagolás: melyik zaj csökken?
Független, azonos szórású, nulla átlagú véletlen hibák esetén N minta átlagának szórása σ/√N. Négy minta ilyenkor felezi a szórást. Drift, korrelált zaj vagy rendszeres hiba mellett ez a javulás nem feltétlenül teljesül. Az átlagolási időablak a valódi gyors jelváltozásokat is elsimíthatja.
Saját számpélda: 8 nA szórású független zaj 16 minta átlagolásával 2 nA-ra csökkenne. Ha a jelhez 5 nA állandó eltolás adódik, az eltolás ettől még megmarad. Ez számítási szemléltetés, nem egy műszer zajspecifikációja.
Szűrés és időfelbontás
Az aluláteresztő szűrő a nagyobb frekvenciájú összetevőket csillapítja; nem vág le minden jelet tökéletesen a határfrekvencia fölött. Amplitúdó- és fázisváltozást, valamint időbeli késést is okozhat. A hardveres szűrés és a már mintavett adatok utólagos szűrése nem minden szempontból helyettesíti egymást.
A korábbi EC-Lab-beállítási tanácsok történeti szoftverfelületre vonatkoztak. Az elérhető szűrőt és határfrekvenciát az adott műszerhez és szoftververzióhoz ellenőrizze. Mentse a nyers adatot is, és dokumentálja az átlagolást, mintavételt, analóg és digitális szűrést. A szűrés nem állítja helyre a méréskor elveszett információt.
A referenciaelektród állapota
A referencia nagy impedanciája és a bemeneti, illetve kábelkapacitások együtt torzíthatják a nagyfrekvenciás EIS-választ. A régi példában említett 1 kΩ és MHz-es tartomány nem általános elfogadási határ. Ellenőrizze az elektród feltöltését, átvezetését, potenciálstabilitását és a gyártói előírásokat.
A referenciaelektród-választási útmutató külön tárgyalja a potenciáldrift és az impedancia ellenőrzését.
Kétvezetékes és négypontos mérés
A négypontos, Kelvin-jellegű bekötés különválasztja az áramvezetést és a feszültségérzékelést. A nagy bemeneti impedanciájú érzékelőágban ideálisan elhanyagolható áram folyik, ezért a kívül maradó áramvezeték ellenállásán eső feszültség nem kerül a cellafeszültségbe. Az érzékelési pontok helye döntő: az azok közé eső kontaktusok és anyagrészek hozzájárulása továbbra is mérhető.
Saját ideális példa: 2 A áram és az érzékelési pontokon kívüli 20 mΩ összes vezetékellenállás 40 mV többletet adna egy kétvezetékes mérésben. A helyesen elhelyezett külön feszültségérzékelés ezt a tagot kizárhatja; a cellán belüli polarizációt nem szünteti meg.
Induktivitás és kábelezés
A vezeték induktív feszültsége U = L·dI/dt: a változás sebessége is számít, nem csak az áram nagysága. EIS-nél az induktív hozzájárulás frekvenciafüggő. Nem minden torzulás jelent nagyobb valós ellenállást, és nincs minden bekötésre érvényes 10 A-es határ.
Tartsa a vezetékhurkot kicsiben és a kábelezést ismételhetően; a sodrást és árnyékolást a gyártói előírás szerint alkalmazza. Egy hosszabbítás ellenállást és parazita elemeket is hozzáadhat. Saját példa: 1 µH induktivitás 1 A/ms áramváltozás mellett 1 mV feszültséget ad. A műszer sávszélessége és a mérési időpont dönti el, hogyan látszik ez az adatokban.
Cella-geometria és iR-esés
Az elektrolitban az áramot ionok szállítják. Az oldat ellenállása miatt a mért elektródpotenciál és a reakciófelület potenciálja eltérhet. Pozitív anódos áram konvenciójával, egyszerű kompenzálatlan ellenállásmodellben E_felület(t) = E_mért(t) − I(t)Rᵤ. Lineáris programnál E_mért = Eᵢ + vt; a régi képletben ezt és a korrigált felületi potenciált nem szabad összekeverni.
Az ábra történeti kapcsolási példa; kiegészítő vezetéket vagy elemet ne alkalmazzon általános bekötési receptként. A referencia elhelyezése és a cella geometriája befolyásolja a kompenzálatlan ellenállást. Az iR-kompenzációs útmutató bemutatja a korrekció előjelét és korlátait.
Műszaki adatok: tartomány és pontosság
DC-mérésnél a várható legkisebb és legnagyobb áramot, a feszültségablakot, a compliance-korlátot és a tartományhoz tartozó hibát együtt ellenőrizze. A sok kijelzett számjegy nem azonos a kis bizonytalansággal.
EIS-nél a frekvencia és az impedancia mellett a gerjesztés, a kábelezés és a konfiguráció is számít. A kontúrdiagramot a hozzá tartozó vizsgálati feltételekkel olvassa; a régi illusztráció nem minden mai készülék pontossági térképe. Kapcsolódó segítség: EIS-adatminőség.
Dokumentáció és további olvasnivalók
A korábban hiányzó poszternek elérhető a gyártói PDF-változata. A helyben megőrzött metrológiai oktatóanyag szintén letölthető; történeti műszer- és szoftverpéldáit ennek megfelelően olvassa.
- AN27: az ohmikus esés hatása.
- AN28: ellenállásmérési módszerek és AN29: ZIR.
- AN44: EIS-artefaktumok és AN48: korróziós kiértékelés.
- TN13: hosszú cellakábelek. A régi TN15 hivatkozást a gyártói támogatáson keresse cím alapján: Low current option: measurement precautions.
A saját mérési jegyzőkönyvben a konfiguráció, kábelezés, cellaállapot, szoftververzió és minden adatfeldolgozási lépés együtt szerepeljen. Így egy későbbi ismétlésnél a görbék különbsége értelmezhető marad.