Project Description
A SCAN-Lab a Bio-Logic szkennelő elektrokémiai munkaállomásokra létrehozott részlege. Ezeknek az eszközöknek a fő célja az elektrokémiai információk lokális szintű beszerzése az elektróda adott felületéről. A klasszikus elektrokémiai vizsgálat, például egy potenciosztát / galvanosztát / impedancia elemző rendszerrel, olyan információt szolgáltat, amely az elektróda teljes felületén előforduló jelenségek átlaga. Tehát a klasszikus mérés nem tud választ adni arra a kérdésre, az elektróda felületének melyik része felel az adott jelenségért, mivel csak egy átlagolt paramétert mér. Ha az elektróda felületén különböző inhomogenitások vannak, akkor ezeken a részeken az elektrokémiai reakciók sebessége is változik, és ha mérjük lokálisan a felületi áram ( potenciál vagy éppen más paraméter) eloszlását, akkor vizualizálhatóvá válik a felület szerkezete. Ez nagyon fontos információkat adhat a kutatók kezébe, főleg ha már előre várható, hogy az elektróda felületén inhomogenitások léteznek.
A pásztázó ( szkennelő) mikroszkopikus szonda méreteinél fogva és elhelyezésének, mozgatásának a következtében, betekintést nyújt a helyi elektrokémia folyamatok intenzitásába mikrométeres felbontással és eloszlással a felületen, amely lehetővé teszi a felhasználó számára, hogy jobban megértse az elektrokémia által tanulmányozott anyagok tulajdonságait.
A SCAN-Lab eszközöket mikrométer felbontású elektrokémiai térképezési eszközöknek kell tekinteni a helyi elektrokémiai folyamatok vizsgálathoz. A mellékelt kép illusztrálja a pásztázó elektrokémiai mikroszkóppal kapott felbontás lehetőségeit.
Módszerek
A BioLogic több műszert forgalmaz a pásztázó ( szkennelő) elektrokémiai mikroszkópok közül. Lehetőség van a laboratórium előtt álló feladatnak megfelelő módszereket kivitelező mikroszkóp kiválasztására.
Az alábbi módszerek vannak beépítve a mikroszkópokba ( minden típus különbözik a tudásban):
- Pásztázó Elektrokémiai Mikroszkópia (SECM)
- Váltakozó áramú szkennelő elektrokémiai mikroszkópia (ac-SECM)
- Megszakításos érintkezésű szkennelő elektrokémiai mikroszkópia (ic-SECM)
- Kombinált ic-ac szkennelési elektrokémiai mikroszkópia (ic-ac-SECM)
- Vibrációs elektróda szkennelése (SVET)
- Kelvin szonda szkennelése (SKP)
- Kapacitív magasságmérés / követés (CHM / CTM)
- Lokalizált elektrokémiai impedancia spektroszkópia (LEIS)
- Szkennelési cseppek rendszer / cella (SDS / SDC)
- Váltakozó áramú szkennelési cseppek rendszer / cella (ac-SDS / ac-SDC)
- Érintés nélküli optikai felületprofilok (lézer alapú) (OSP)
Alkalmazási területek a korrózió, az energiatárolás, a bevonatok, az érzékelők és szenzorok, a bioelektrokémia, a fotovoltaika. A SCAN-Lab műszerek használhatóak a mikro szerszámokhoz ( micro-machining), molekuláris oltáshoz ( grafting), katalizátorok kiválasztásához, heterogén anyagok (szerkezeti fémek, akkumulátorelektródák, bevont minták) lokalizált korróziós tulajdonságainak a mérésére. Bővebben a SCAN-Lab termékeiről olvasson ITT.
A szoftver lehetőségeiről
A szkennelő elektrokémiai munkaállomás szoftver egyedülálló képességeket és interaktivitást biztosít a Model370 és Model470 nanométeres felbontású szkennelő szonda mikroszkópok támogatására. A szoftvert a felhasználó érdekeit a szem előtt tartva tervezték:
- Fokozva adatelemzés, manipuláció és interaktivitás lehetőségeit;
- automatizálva és ezáltal megkönnyítve a mérések és a szekvenálás folyamatait.
Több, mint 40 féle diszkrét kísérletei beállítás lehetséges, amelyek mindegyike saját egyedi variációval rendelkezik, mint például:
- Magasság-követés (felszín felett)
- Felszíni követés (felületen)
- Lépés Szkennelés
- Sweep ( söprés) szkennelés
- Elő-késleltetések, Vonali-késleltetések, Sebességek, Lépésméretek, Szkennelési méretek, Jelkészítési paraméterek, Vezérlő hurokparaméterek, Potenciosztát -beállítás stb.
A Szoftver 64 bites és 32 bites WindowsTM támogatást biztosít egy szabványos több dokumentumos interfész (MDI) alkalmazásban, amely támogatja a szabványos WindowsTM szolgáltatásokat.
A Szoftver egyetlen alkalmazásban teljesen önálló, és tartalmazza az alábbi módszerek kivitelezését:
| M370 | M470 | ||
| • Electrochemistry suite | (EChem) | √ | √ |
| • Corrosion suite | (ECorr) | √ | √ |
| • Scanning Electrochemical Microscopy | (SECM) | √ | √ |
| • alternating-current Scanning Electrochemical Microscopy | (ac-SECM) | √ | |
| • intermittent-contact Scanning Electrochemical Microscopy | (ic-SECM) | √ | |
| • combined ic-ac Scanning Electrochemical Microscopy | (ic-ac-SECM) | √ | |
| • Scanning Vibrating Electrode | (SVET) | √ | √ |
| • Scanning Kelvin Probe | (SKP) | √ | √ |
| • Capacitive Height Measurement/Tracking | (CHM / CTM) | √ | √ |
| • Localised Electrochemical Impedance Spectroscopy | (LEIS) | √ | √ |
| • Scanning Droplet System / Cell | (SDS / SDC) | √ | √ |
| • alternating-current Scanning Droplet System/ Cell | (ac-SDS / ac-SDC) | √ | |
| • Non-contact Optical Surface Profiling (Laser based) | (OSP) | √ | |
Ha kérdése van, bátran írjon nekünk, vagy hívjon minket, segítünk a helyes választásban.
TERMÉKEK
Alkalmazási területek a korrózió, az energiatárolás, a bevonatok, az érzékelők és szenzorok, a bioelektrokémia, a fotovoltaika. A SCAN-Lab műszerek használhatóak a mikro szerszámokhoz ( micro-machining), molekuláris oltáshoz ( grafting), katalizátorok kiválasztásához, heterogén anyagok (szerkezeti fémek, akkumulátorelektródák, bevont minták) lokalizált korróziós tulajdonságainak a mérésére.
Bővebben a SCAN-Lab termékeiről olvasson ITT.
Több mint 1,000 Laborban Világszerte
Válassza ön is a Holnap elektrokémiai berendezéseit.