Project Description

A SCAN-Lab a Bio-Logic szkennelő elektrokémiai munkaállomásokra létrehozott részlege. Ezeknek az eszközöknek a fő célja az elektrokémiai információk lokális szintű beszerzése az elektróda adott felületéről. A klasszikus elektrokémiai vizsgálat, például egy potenciosztát / galvanosztát / impedancia elemző rendszerrel, olyan információt szolgáltat, amely az elektróda teljes felületén előforduló jelenségek átlaga. Tehát a klasszikus mérés nem tud választ adni arra a kérdésre, az elektróda felületének melyik része felel az adott jelenségért, mivel csak egy átlagolt paramétert mér. Ha az elektróda felületén különböző inhomogenitások vannak, akkor ezeken a részeken az elektrokémiai reakciók sebessége is változik, és ha mérjük lokálisan a felületi áram ( potenciál vagy éppen más paraméter) eloszlását, akkor vizualizálhatóvá válik a felület szerkezete. Ez nagyon fontos információkat adhat a kutatók kezébe, főleg ha már előre várható, hogy az elektróda felületén inhomogenitások léteznek.

A pásztázó ( szkennelő) mikroszkopikus szonda méreteinél fogva és elhelyezésének, mozgatásának a következtében, betekintést nyújt a helyi elektrokémia folyamatok intenzitásába mikrométeres felbontással és eloszlással a felületen, amely lehetővé teszi a felhasználó számára, hogy jobban megértse az elektrokémia által tanulmányozott anyagok  tulajdonságait.

A SCAN-Lab eszközöket mikrométer felbontású elektrokémiai térképezési eszközöknek kell tekinteni a helyi elektrokémiai folyamatok vizsgálathoz. A mellékelt kép illusztrálja a pásztázó elektrokémiai mikroszkóppal kapott felbontás lehetőségeit.

Módszerek

A BioLogic több műszert forgalmaz a pásztázó ( szkennelő) elektrokémiai mikroszkópok közül. Lehetőség van a laboratórium előtt álló feladatnak megfelelő módszereket kivitelező mikroszkóp kiválasztására.

Az alábbi módszerek vannak beépítve a mikroszkópokba ( minden típus különbözik a tudásban):

  • Pásztázó Elektrokémiai Mikroszkópia (SECM)
  • Váltakozó áramú szkennelő elektrokémiai mikroszkópia (ac-SECM)
  • Megszakításos érintkezésű szkennelő elektrokémiai mikroszkópia (ic-SECM)
  • Kombinált ic-ac szkennelési elektrokémiai mikroszkópia (ic-ac-SECM)
  • Vibrációs elektróda szkennelése (SVET)
  • Kelvin szonda szkennelése (SKP)
  • Kapacitív magasságmérés / követés (CHM / CTM)
  • Lokalizált elektrokémiai impedancia spektroszkópia (LEIS)
  • Szkennelési cseppek rendszer / cella (SDS / SDC)
  • Váltakozó áramú szkennelési cseppek rendszer / cella (ac-SDS / ac-SDC)
  • Érintés nélküli optikai felületprofilok (lézer alapú) (OSP)

 

Alkalmazási területek a korrózió, az energiatárolás, a bevonatok, az érzékelők és szenzorok,  a bioelektrokémia, a fotovoltaika. A SCAN-Lab műszerek használhatóak a mikro szerszámokhoz ( micro-machining), molekuláris oltáshoz ( grafting), katalizátorok  kiválasztásához, heterogén anyagok (szerkezeti fémek, akkumulátorelektródák, bevont minták) lokalizált korróziós tulajdonságainak a mérésére. Bővebben a SCAN-Lab termékeiről olvasson ITT.

 

A szoftver lehetőségeiről

A szkennelő elektrokémiai munkaállomás szoftver egyedülálló képességeket és interaktivitást biztosít a Model370 és Model470 nanométeres felbontású szkennelő szonda mikroszkópok támogatására. A szoftvert a felhasználó érdekeit a szem előtt tartva tervezték:

  • Fokozva adatelemzés, manipuláció és interaktivitás lehetőségeit;
  • automatizálva és ezáltal megkönnyítve a mérések és a szekvenálás folyamatait.

Több, mint 40 féle diszkrét kísérletei beállítás lehetséges, amelyek mindegyike saját egyedi variációval rendelkezik, mint például:

  • Magasság-követés (felszín felett)
  • Felszíni követés (felületen)
  • Lépés Szkennelés
  • Sweep ( söprés) szkennelés
  • Elő-késleltetések, Vonali-késleltetések, Sebességek, Lépésméretek, Szkennelési méretek, Jelkészítési paraméterek, Vezérlő hurokparaméterek, Potenciosztát -beállítás stb.

A Szoftver 64 bites és 32 bites WindowsTM támogatást biztosít egy szabványos több dokumentumos interfész (MDI) alkalmazásban, amely támogatja a szabványos WindowsTM szolgáltatásokat.

A Szoftver egyetlen alkalmazásban teljesen önálló, és tartalmazza az alábbi módszerek kivitelezését:

M370 M470
• Electrochemistry suite (EChem)
• Corrosion suite (ECorr)
• Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
• alternating-current Scanning Electrochemical Microscopy (ac-SECM)
• intermittent-contact Scanning Electrochemical Microscopy (ic-SECM)
• combined ic-ac Scanning Electrochemical Microscopy (ic-ac-SECM)
• Scanning Vibrating Electrode (SVET)
• Scanning Kelvin Probe (SKP)
• Capacitive Height Measurement/Tracking  (CHM / CTM)
• Localised Electrochemical Impedance Spectroscopy  (LEIS)
• Scanning Droplet System / Cell  (SDS / SDC)
• alternating-current Scanning Droplet System/ Cell  (ac-SDS / ac-SDC)
• Non-contact Optical Surface Profiling (Laser based)  (OSP)

Ha kérdése van, bátran írjon nekünk, vagy hívjon minket, segítünk a helyes választásban.

TERMÉKEK

Alkalmazási területek a korrózió, az energiatárolás, a bevonatok, az érzékelők és szenzorok,  a bioelektrokémia, a fotovoltaika. A SCAN-Lab műszerek használhatóak a mikro szerszámokhoz ( micro-machining), molekuláris oltáshoz ( grafting), katalizátorok  kiválasztásához, heterogén anyagok (szerkezeti fémek, akkumulátorelektródák, bevont minták) lokalizált korróziós tulajdonságainak a mérésére.

Bővebben a SCAN-Lab termékeiről olvasson ITT.

Részletek
Részletek

Több mint 1,000 Laborban Világszerte

Válassza ön is a Holnap elektrokémiai berendezéseit.